Boğaziçi CT3
Hizmetler
Cihaz Adı / Marka / Model
• Adı: Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) – ESEM / STEM Destekli
• Marka: Thermo Scientific
• Model: Quattro S SEM
Genel Bakış
Thermo Scientific Quattro S SEM, iletken veya yalıtkan malzemelerin mikro ve nano ölçekte yüksek çözünürlükte yüzey karakterizasyonunu sağlayan ileri düzey bir taramalı elektron mikroskop sistemidir. Elektron demeti kullanılarak yüzey topografisi, morfolojisi, kimyasal kompozisyonu ve çok fazlı yapıların dağılımı gibi detaylar analiz edilebilmektedir. ESEM ve STEM modlarıyla çevresel ve sıvı ortamlarda da analiz yapılmasına olanak tanır.
Kullanım Amacı / Çıktı
• Mikro/nano ölçekte yüzey topografisi ve morfoloji görüntüleme
• Kimyasal kompozisyon analizi ve elementel haritalama (EDS)
• Çok fazlı yapılarda element kontrastı ve dağılım analizi
• Kaplama yapılmadan yalıtkan numune görüntüleme (ESEM)
• Islak numuneler ve nanopartikül karakterizasyonu (STEM / WET-STEM)
Uygulama Alanları
• Yüzey morfolojisi ve topografik analizler
• Elementel analiz ve haritalama (EDS)
• Çok fazlı yapılar ve element kontrastı
• Kaplama yapılmadan yalıtkan numune görüntüleme (ESEM)
• Islak numuneler ve nano-partikül karakterizasyonu (STEM/WET-STEM)
• Metaller, alaşımlar, seramikler ve kompozitler
• Polimerler, lifler, partiküller ve jeller
• Biyolojik dokular, bitki materyalleri
• Film kaplamalar, camlar ve farmasötik formlar
Öne Çıkanlar
• High vacuum / low vacuum / ESEM modlarıyla geniş numune uyumluluğu (yalıtkan ve kaplamasız numuneler dahil)
• STEM ve WET-STEM ile nano-partikül ve ıslak numune analizlerine uygun altyapı
• ColorSEM teknolojisi ile renkli görüntüleme ve dahili optik kamera ile numune navigasyonu
Teknik Özellikler
| Özellik | Değer / Açıklama |
|---|---|
| Büyütme | 1,000,000× |
| Görüntü çözünürlüğü (piksel) | 768×512 – 6144×4096 |
| Çözünürlük (STEM) | 0.8 nm @ 30 kV |
| Çözünürlük (SE, High vacuum) | 1.0 nm @ 30 kV |
| Çözünürlük (SE, Low vacuum) | 1.3 nm @ 30 kV |
| Çözünürlük (ESEM mode, SE) | 3.0 nm @ 1 kV |
| Hızlandırma voltajı | 200 V – 30 kV |
| Partikül boyutu analizi | ≥ 1 nm |
| Tilt açısı | –15° ila +90° |
| Peltier soğutmalı numune sahası | –20°C ila +40°C |
| Navigasyon | Dahili optik kamera |
| Renkli görüntüleme | ColorSEM teknolojisi |
İletişim / Hizmet Talebi
Hizmet talebi için: [email protected] adresine e-posta gönderebilirsiniz. (Numune türü, amaç ve tarih aralığını belirtmeniz rica olunur.)